ATOS電磁閥異常振動原因分析及處理方案
ATOS電磁閥異常振動原因分析及處理方案:
ATOS電磁閥振動是閥門運行中較難處理的故障之一。振動不僅加速調(diào)節(jié)閥的損壞,也對產(chǎn)品質(zhì)量和安全造成影響。本文結(jié)合智能定位器的研究,給出現(xiàn)場處理振動問題的注意事項和方法。
執(zhí)行機構(gòu)漏氣
ATOS電磁閥由于漏氣使實際閥位偏離給定閥位,造成伺服放大器反復(fù)充氣,使閥門不能穩(wěn)定在給定閥位,造成閥門振動。
ATOS電磁閥氣動薄膜執(zhí)行機構(gòu)
氣動薄膜執(zhí)行機構(gòu)的膜片破損,推桿與彈簧托盤松動,O形圈破損,反作用執(zhí)行機構(gòu)推桿與下膜蓋之間的密封漏氣,通常為V形密封圈磨損,頂裝手輪機構(gòu)上膜蓋密封漏氣。
(2)直行程氣缸執(zhí)行機構(gòu)
直行程氣缸執(zhí)行機構(gòu)(包含用于撥叉式角行程執(zhí)行機構(gòu))的活塞密封圈漏氣(竄缸漏氣),活塞缸蓋密封漏氣,限位螺釘密封組件漏氣,輸出軸與缸蓋間密封漏氣。
(3)雙齒條結(jié)構(gòu)角行程執(zhí)行機構(gòu)
雙齒條結(jié)構(gòu)角行程執(zhí)行機構(gòu)的活塞背面密封圈漏氣,氣缸蓋與缸體密封圈漏氣,輸出軸與缸體連接的上下支撐密封圈漏氣,氣缸蓋上的限位螺釘漏氣。
(4)外部附件
外部附件如各定位器輸出管線接頭漏氣,氣控增速器或繼動器、快排閥、單向調(diào)速器和保位閥漏氣。
2.2漏氣處理
針對不同的漏氣現(xiàn)象,采取的處理方法不同。
(1)如果閥門沒有嚴格的開關(guān)時間限制,應(yīng)盡可能減少氣動附件和過程接頭,如取消快排閥、氣控增速器、單向調(diào)速器、變徑和彎通等附屬元件。
(2)定時清掃并加注潤滑油,保持推桿、閥桿潔凈無銹蝕,鍍鉻層不起皮,潤滑充分,確保密封件不磨損、不漏氣。
(3)巡檢時,對氣動薄膜執(zhí)行機構(gòu)的排氣口(正作用排氣口在下膜蓋,反作用在上膜蓋)和單作用活塞缸的排氣口等部位進行檢漏,發(fā)現(xiàn)漏氣及時進行修復(fù)處理。
ATOS電磁閥桿與填料、閥芯與閥座以及執(zhí)行機構(gòu)的卡塞。
(1)閥桿密封填料壓裝過緊,引起閥桿運行阻力增大。由于數(shù)控加工精度的提高,閥桿表面的光潔度很高,填料過緊增大了閥桿與填料間的阻力,在預(yù)緊彈簧回位時引起超調(diào),進而引起閥門長周期振動(振動周期一般大于30s)。
(2)對彈簧預(yù)緊的填料函采用不合理的方法調(diào)整填料壓蓋,造成閥桿運行阻力增大、預(yù)緊彈簧或填料損壞。
(3)低溫閥門未采用與其相應(yīng)的填料,造成摩擦阻力增大。
(4)閥桿變形或填料壓蓋錯位,引起閥桿摩擦填料壓蓋,造成運行阻力增大,同時引起填料加速磨損造成介質(zhì)泄漏。閥桿變形通常有2種原因。①正作用執(zhí)行機構(gòu)由于氣源壓力設(shè)定值超過閥門標稱值,推力過大造成閥桿變形。②操作閥門手動機構(gòu)時用力過大引起閥桿變形。